Submit an Article
Become a reviewer
Vol 187
Pages:
198-201
Download volume:
RUS

The notions of engineering thinking, the technical picture, the worldview of engineer’s

Authors:
B. Ya. Pukshansky
About authors
  • Ph.D., Dr.Sci. professor Saint Petersburg State Mining Institute (Technical University)
Date submitted:
2009-09-23
Date accepted:
2009-11-28
Date published:
2010-03-01

Abstract

The notions of engineering thinking, the technical picture of the world, the engineer’s worldview and their forming in the process of modern education of engineers are studied.

Keywords:
engineering thinking technical picture of the world worldview paradigm technical rationality technology of system
Go to volume 187

References

  1. Ведута М.И. Экономическая кибернетика. М., 1971.
  2. Гельфер Я.М. История и методология термодинамики и статистической физики. М., 1969. Т.1.
  3. Гусев С.С. Обыденное мировоззрение / С.С.Гусев, Б.Я..Пукшанский. СПб, 1994.
  4. Иванов Б.И. Философские проблемы технознания. СПб, 1997.
  5. Кеттер Р. К отношению технической и естественно-научной рациональности // Философия техники в ФРГ: Cб. ст. / Сост. Ц.Г.Арзаканян, В.Г.Горохов. М., 1989.
  6. Теория автоматического управления / Под ред. А.В.Нетуша. М., 1976.
  7. Тимофеев В.А. Инженерные методы расчета и исследования динамических систем. Л., 1975.
  8. Пукшанский Б.Я. Обыденное знание. Л.,1987.
  9. Шубас М.Л. Инженерный стиль мышления и научная картина техносферы: Автореф. дис. … д-ра философ. наук. Минск, 1982.

Similar articles

Numerical modelling of shear strain near to the crack
2010 S. E. Mansurova
Information technology usage during linguistic competitions in technical higher school conducting
2010 E. V. Terentyeva
Way philosophy courses are considered essential at american technical universities
2010 M. I. Mikeshin
Simultaneous doping of silicon carbide with aluminum and nitrogen
2010 I. I. Parfenova
Photoelectric method of hydrogen detection
2010 T. V. Stoyanova, Kh. M. Salikhov, K. V. Kalinina, N. D. Stoyanov
Use of mosfet for the control of dielectric characteristics
2010 N. S. Pshchelko, A. S. Mustafaev