Диагностика потенциально опасных дефектов в диэлектрических материалах

Е. К. Григорьев; Н. С. Пщелко

Том 196

Страницы:

311

Скачать том:

RUS

Нанотехнологии и информационные технологии

Диагностика потенциально опасных дефектов в диэлектрических материалах

Авторы:

Е. К. Григорьев¹

Н. С. Пщелко²

Об авторах

1 — Санкт-Петербургский государственный горный университет
2 — Санкт-Петербургский государственный горный университет

Дата отправки:

2011-08-13

Дата принятия:

2011-10-01

Дата публикации:

2012-02-01

Аннотация

Представлен ряд экспериментальных методик обнаружения в аморфных слоях оксида тантала структурных дефектов, ускоряющих процессы разрушения в сильных электрических полях и являющихся потенциально опасными при длительном электротепловом нагружении конденсаторных структур. Показано, что аномальная частотная зависимость диэлектрических потерь и рост тока утечки с течением времени позволяют выявить потенциально ненадежные конденсаторы.

Литература

Пщелко Н.С. Использование полевых транзи- сторов для контроля характеристик диэлектриков / Н.С.Пщелко, А.С.Мустафаев // Записки Горного инсти- тута. 2010. Т.187. С.125-131.
Ханин С.Д. Модели прыжкового переноса и ме- тоды анализа электронных свойств неупорядоченных систем // Известия РГПУ им. А.И.Герцена. Естественные и точные науки. 2002. № 2(4). С.47-56.
Ханин С.Д. Проблемы электрофизики металло- оксидных конденсаторных диэлектриков // Обзоры по электронной технике. Серия 5. Радиодетали и радиоком- поненты. 1990. Вып.1. 57 с.
Khanin S.D. Structure inhomogeneities of the oxide dielectric and the properties of tantalum capacitors // Materials Science Forum «Passivation of metals and semiconductors». 1994. Germany. Clausthal. 1995. Vol.185-188. P.573-580.

Диагностика потенциально опасных дефектов в диэлектрических материалах

Аннотация

Литература

Похожие статьи