Диагностика потенциально опасных дефектов в диэлектрических материалах
Об авторах
- 1 — студент Санкт-Петербургский государственный горный университет
- 2 — канд. техн. наук доцент Санкт-Петербургский государственный горный университет
Аннотация
Представлен ряд экспериментальных методик обнаружения в аморфных слоях оксида тантала структурных дефектов, ускоряющих процессы разрушения в сильных электрических полях и являющихся потенциально опасными при длительном электротепловом нагружении конденсаторных структур. Показано, что аномальная частотная зависимость диэлектрических потерь и рост тока утечки с течением времени позволяют выявить потенциально ненадежные конденсаторы.
Область исследования:
(Архив) Нанотехнологии и информационные технологии
Финансирование:
Отсутствует
Литература
- Пщелко Н.С. Использование полевых транзи- сторов для контроля характеристик диэлектриков / Н.С.Пщелко, А.С.Мустафаев // Записки Горного инсти- тута. 2010. Т.187. С.125-131.
- Ханин С.Д. Модели прыжкового переноса и ме- тоды анализа электронных свойств неупорядоченных систем // Известия РГПУ им. А.И.Герцена. Естественные и точные науки. 2002. № 2(4). С.47-56.
- Ханин С.Д. Проблемы электрофизики металло- оксидных конденсаторных диэлектриков // Обзоры по электронной технике. Серия 5. Радиодетали и радиоком- поненты. 1990. Вып.1. 57 с.
- Khanin S.D. Structure inhomogeneities of the oxide dielectric and the properties of tantalum capacitors // Materials Science Forum «Passivation of metals and semiconductors». 1994. Germany. Clausthal. 1995. Vol.185-188. P.573-580.
Похожие статьи
Программное средство создания электронных справочников и энциклопедий и иллюстрации его применения
2012 Е. В. Жданов, Д. С. Титов, О. Г. Быкова
Определение параметров векторов потокосцепления в электроприводах с векторным управлением
2012 В. В. Алексеев, В. И. Вершинин, Б. Ю. Васильев
Разработка системы мероприятий для осуществления перехода от земельной доли к земельному участку
2012 А. С. Гарбацевич