Диагностика потенциально опасных дефектов в диэлектрических материалах
Об авторах
- 1 — студент Санкт-Петербургский государственный горный университет
- 2 — канд. техн. наук доцент Санкт-Петербургский государственный горный университет
Аннотация
Представлен ряд экспериментальных методик обнаружения в аморфных слоях оксида тантала структурных дефектов, ускоряющих процессы разрушения в сильных электрических полях и являющихся потенциально опасными при длительном электротепловом нагружении конденсаторных структур. Показано, что аномальная частотная зависимость диэлектрических потерь и рост тока утечки с течением времени позволяют выявить потенциально ненадежные конденсаторы.
Область исследования:
(Архив) Нанотехнологии и информационные технологии
Финансирование:
Отсутствует
Литература
- Пщелко Н.С. Использование полевых транзи- сторов для контроля характеристик диэлектриков / Н.С.Пщелко, А.С.Мустафаев // Записки Горного инсти- тута. 2010. Т.187. С.125-131.
- Ханин С.Д. Модели прыжкового переноса и ме- тоды анализа электронных свойств неупорядоченных систем // Известия РГПУ им. А.И.Герцена. Естественные и точные науки. 2002. № 2(4). С.47-56.
- Ханин С.Д. Проблемы электрофизики металло- оксидных конденсаторных диэлектриков // Обзоры по электронной технике. Серия 5. Радиодетали и радиоком- поненты. 1990. Вып.1. 57 с.
- Khanin S.D. Structure inhomogeneities of the oxide dielectric and the properties of tantalum capacitors // Materials Science Forum «Passivation of metals and semiconductors». 1994. Germany. Clausthal. 1995. Vol.185-188. P.573-580.
Похожие статьи
Повышение срока службы конвейерных лент при транспортировании ленточными конвейерами крупнокускового груза
2012 Ю. Д. Тарасов, А. О. Кузьмин
Адсорбция и еe влияние на механизм декомпозиции алюминатных растворов
2012 В. В. Радько, В. Н. Бричкин, Н. В. Николаева, Е. Е. Гордюшенков
Экономическая эффективность использования инновационных технологий при подземном хранении природного газа
2012 Г. С. Елизарова
Влияние дискретности распределения заряда на силовые характеристики электрического поля в электроадгезионных технологиях
2012 Н. С. Пщелко, Н. П. Сидорова, Д. А. Чигирев