X-ray diffractional studies for crystal – chemical characterization and quantification of smectites
Авторы:
Об авторах
- Горно-технологический университет
Аннотация
Для оценки качества бентонитов и их промышленного использования необходимо точно определить содержание в них смектита. До настоящего времени было невозможно использовать стандартный метод Ритвелда для количественного фазового анализа смектит-содержащих образцов из-за турбостатического беспорядка большинства природных смектитов. Предлагается модель, позволяющая описать порошковые дифракционные рентгенограммы образцов монтмориллонита, полученные в комнатных условиях.
Литература
- Bergmann, J., Kleeberg, R., Taut, T. (1997): Quantitative phase analysis using a new Rietveld algorithm – assisted by improved stability and convergence behavior, Advances in X ray analysis, Vol.40, 425.
- Ferrage, E., Lanson, B., Sakharov, B.A., Drits, V.A. (2005a): Investigation of smectite hydration properties by modeling experimental X-ray diffraction patterns: Part I. Montmorillonite hydration properties, American Mineralogist, Vol.90, 1358-1374.
- Guven, N. (1988): Smectites – In: Bailey, S. W. (Hrsg.) (1988): Hydrous phyllosilicates, Reviews in mineralogy Vol.19, Mineralogical Society of America, Washington, 497-559.
- Koster, H.M. (1977): Die Berechnung kristallchemischer Strukturformeln von 2:1-Schichtsilikaten unter Berucksichtigung der gemessenen Zwischenschichtladungen und Kationenaustauschkapazitaten, sowie die Darstellung der Ladungsverteilung in der Struktur mittels Dreieckskoordinaten, Clay Minerals, Vol.12, 45-54.
- Meier, J., Kahr, G. (1999): Determination of the cation exchange dapacity (CEC) of clay minerals using the complexes of copper(II) ion with triethylenetetramine and tetraethylenepentamine, Clays and Clay Minerals, Vol.47, 386-388.
- Moore, D.M., Reynolds, R.C. (1997): X-ray diffraction and the identification and analysis of clay minerals, 2nd edition, Oxford University Press, New York.
- Ufer, K., Roth, G., Kleeberg, R., Stanjek, H., Dohrmann, R., Bergmann, J. (2004): Description of X-ray powder pattern of turbostratically disordered layer structures with a Rietveld compatible approach, Zeitschrift fur Kristallographie, Vol.219, 519-527.
- Tsipurski, S.I., Drits, V.A. (1984): The distribution of octahedral cations in the 2:1 layers of dioctahedral smectites studied by oblique-texture electron diffraction, Clay Minerals, Vol.19, 177-193.
- Warren, B.E. (1941): X-ray diffraction in random layer lattices, Physical Review, Vol. 59, 693-698.
Похожие статьи
Reservoir simulation study of PWF (patern water flood) in m Field In Indonesia
2007 Yuliarini Luh Mirah
Эффективность применения технологии кучного выщелачивания на ОАО «Покровский рудник»
2007 К. Ю. Сергунова