Электрические методы неразрушающего контроля качества металлодиэлектрических структур оксидных конденсаторов
Об авторах
- 1 — Санкт-Петербургский государственный горный институт (технический университет)
- 2 — Российский государственный педагогический университет им. А.И.Герцена
Аннотация
Представлен ряд экспериментальных методик обнаружения в аморфных слоях оксида тантала структурных дефектов, ускоряющих процессы разрушения в сильных электрических полях и являющихся потенциально опасными при длительном электротепловом нагружении конденсаторных структур. Показано, что аномальная частотная зависимость диэлектрических потерь и рост тока утечки с течением времени позволяют выявить потенциально ненадежные конденсаторы.
Область исследования:
(Архив) Фундаментальные исследования в области естественно-научных дисциплин
Финансирование:
Отсутствует
Литература
- Пщелко Н.С. Использование полевых транзисторов для контроля характеристик диэлектриков / Н.С.Пщелко, А.С.Мустафаев // Записки Горного института. 2010. № 187. С.125-131.
- Ханин С.Д. Модели прыжкового переноса и методы анализа электронных свойств неупорядоченных систем // Известия РГПУ. Естественные и точные науки. 2002. № 2(4). С.47-56.
- Ханин С.Д. Проблемы электрофизики металлооксидных конденсаторных диэлектриков. Обзоры по электронной технике. Серия 5. Радиодетали и радиокомпоненты. 1990. Вып. 1 (1524). 57 с.
- Khanin S.D. Structure inhomogeneities of the oxide dielectric and the properties of tantalum capacitors. Materials Science Forum «Passivation of metals and semiconductors». Germany, Clausthal. 1995. V.185-188. P.573-580.
Похожие статьи
Биогидрометаллургическая переработка медных сульфидных руд месторождения «Эрдэнэтийн Овоо»
2011 М. Пурэвдаш, С. Н. Салтыкова, Н. М. Теляков
Экстракционное разделение лантаноидов цериевой группы олеиновой кислотой
2011 Д. С. Луцкий, Т. Е. Литвинова, Д. Э. Чиркст
Особености технологии моделирования отвала фосфогипса по результатам лазерной сканирующей съемки
2011 М. Ю. Васильев