Электрические методы неразрушающего контроля качества металлодиэлектрических структур оксидных конденсаторов
Об авторах
- 1 — Санкт-Петербургский государственный горный институт (технический университет)
- 2 — Российский государственный педагогический университет им. А.И.Герцена
Аннотация
Представлен ряд экспериментальных методик обнаружения в аморфных слоях оксида тантала структурных дефектов, ускоряющих процессы разрушения в сильных электрических полях и являющихся потенциально опасными при длительном электротепловом нагружении конденсаторных структур. Показано, что аномальная частотная зависимость диэлектрических потерь и рост тока утечки с течением времени позволяют выявить потенциально ненадежные конденсаторы.
Область исследования:
(Архив) Фундаментальные исследования в области естественно-научных дисциплин
Литература
- Пщелко Н.С. Использование полевых транзисторов для контроля характеристик диэлектриков / Н.С.Пщелко, А.С.Мустафаев // Записки Горного института. 2010. № 187. С.125-131.
- Ханин С.Д. Модели прыжкового переноса и методы анализа электронных свойств неупорядоченных систем // Известия РГПУ. Естественные и точные науки. 2002. № 2(4). С.47-56.
- Ханин С.Д. Проблемы электрофизики металлооксидных конденсаторных диэлектриков. Обзоры по электронной технике. Серия 5. Радиодетали и радиокомпоненты. 1990. Вып. 1 (1524). 57 с.
- Khanin S.D. Structure inhomogeneities of the oxide dielectric and the properties of tantalum capacitors. Materials Science Forum «Passivation of metals and semiconductors». Germany, Clausthal. 1995. V.185-188. P.573-580.
Похожие статьи
Кинетика химических превращений при спекании шихты в трубчатых вращающихся печах при производстве глинозема
2011 Ю. В. Шариков, О. В. Титов
Принципы создания автоматической системы управления вентиляцией Кузнецовского железнодорожного тоннеля
2011 С. Г. Гендлер, В. А. Плескунов
Геомеханическое обоснование оптимальных параметров целиков при многоштрековой схеме подготовки угольных пластов
2011 С. Г. Кокоев