Электрические методы неразрушающего контроля качества металлодиэлектрических структур оксидных конденсаторов
Об авторах
- 1 — Санкт-Петербургский государственный горный институт (технический университет)
- 2 — Российский государственный педагогический университет им. А.И.Герцена
Аннотация
Представлен ряд экспериментальных методик обнаружения в аморфных слоях оксида тантала структурных дефектов, ускоряющих процессы разрушения в сильных электрических полях и являющихся потенциально опасными при длительном электротепловом нагружении конденсаторных структур. Показано, что аномальная частотная зависимость диэлектрических потерь и рост тока утечки с течением времени позволяют выявить потенциально ненадежные конденсаторы.
Литература
- Пщелко Н.С. Использование полевых транзисторов для контроля характеристик диэлектриков / Н.С.Пщелко, А.С.Мустафаев // Записки Горного института. 2010. № 187. С.125-131.
- Ханин С.Д. Модели прыжкового переноса и методы анализа электронных свойств неупорядоченных систем // Известия РГПУ. Естественные и точные науки. 2002. № 2(4). С.47-56.
- Ханин С.Д. Проблемы электрофизики металлооксидных конденсаторных диэлектриков. Обзоры по электронной технике. Серия 5. Радиодетали и радиокомпоненты. 1990. Вып. 1 (1524). 57 с.
- Khanin S.D. Structure inhomogeneities of the oxide dielectric and the properties of tantalum capacitors. Materials Science Forum «Passivation of metals and semiconductors». Germany, Clausthal. 1995. V.185-188. P.573-580.
Похожие статьи
Обеспечение устойчивости горных выработок целиками различной жесткости
2011 Л. К. Горшков, С. Г. Кокоев
Выбор параметров камуфлетного взрывания для снижения удароопасности при отработке рудных месторождений
2011 Д. Ю. Дорджиев
Повышение эффективности функционирования конденсаторных батарей в электрической сети горного предприятия
2011 А. Н. Скамьин