Электрические методы неразрушающего контроля качества металлодиэлектрических структур оксидных конденсаторов
Об авторах
- 1 — Санкт-Петербургский государственный горный институт (технический университет)
- 2 — Российский государственный педагогический университет им. А.И.Герцена
Аннотация
Представлен ряд экспериментальных методик обнаружения в аморфных слоях оксида тантала структурных дефектов, ускоряющих процессы разрушения в сильных электрических полях и являющихся потенциально опасными при длительном электротепловом нагружении конденсаторных структур. Показано, что аномальная частотная зависимость диэлектрических потерь и рост тока утечки с течением времени позволяют выявить потенциально ненадежные конденсаторы.
Литература
- Пщелко Н.С. Использование полевых транзисторов для контроля характеристик диэлектриков / Н.С.Пщелко, А.С.Мустафаев // Записки Горного института. 2010. № 187. С.125-131.
- Ханин С.Д. Модели прыжкового переноса и методы анализа электронных свойств неупорядоченных систем // Известия РГПУ. Естественные и точные науки. 2002. № 2(4). С.47-56.
- Ханин С.Д. Проблемы электрофизики металлооксидных конденсаторных диэлектриков. Обзоры по электронной технике. Серия 5. Радиодетали и радиокомпоненты. 1990. Вып. 1 (1524). 57 с.
- Khanin S.D. Structure inhomogeneities of the oxide dielectric and the properties of tantalum capacitors. Materials Science Forum «Passivation of metals and semiconductors». Germany, Clausthal. 1995. V.185-188. P.573-580.
Похожие статьи
Утилизация отходов обогащения алмазосодержащей породы с учетом специфики месторождения им М.В.Ломоносова
2011 А. Ю. Облицов
Перспективы гидрометаллургической переработки окисленных медных руд и сульфидных медных концентратов как составная часть новой технологии комплексной переработки месторождения «Эрдэнэтийн Овоо»
2011 М. Пурэвдаш
Определение прочностных свойств закладочного материала Яковлевского железорудного месторождения
2011 К. Г. Синякин