Электрические методы неразрушающего контроля качества металлодиэлектрических структур оксидных конденсаторов
Об авторах
- 1 — Санкт-Петербургский государственный горный институт (технический университет)
- 2 — Российский государственный педагогический университет им. А.И.Герцена
Аннотация
Представлен ряд экспериментальных методик обнаружения в аморфных слоях оксида тантала структурных дефектов, ускоряющих процессы разрушения в сильных электрических полях и являющихся потенциально опасными при длительном электротепловом нагружении конденсаторных структур. Показано, что аномальная частотная зависимость диэлектрических потерь и рост тока утечки с течением времени позволяют выявить потенциально ненадежные конденсаторы.
Область исследования:
(Архив) Фундаментальные исследования в области естественно-научных дисциплин
Финансирование:
Отсутствует
Литература
- Пщелко Н.С. Использование полевых транзисторов для контроля характеристик диэлектриков / Н.С.Пщелко, А.С.Мустафаев // Записки Горного института. 2010. № 187. С.125-131.
- Ханин С.Д. Модели прыжкового переноса и методы анализа электронных свойств неупорядоченных систем // Известия РГПУ. Естественные и точные науки. 2002. № 2(4). С.47-56.
- Ханин С.Д. Проблемы электрофизики металлооксидных конденсаторных диэлектриков. Обзоры по электронной технике. Серия 5. Радиодетали и радиокомпоненты. 1990. Вып. 1 (1524). 57 с.
- Khanin S.D. Structure inhomogeneities of the oxide dielectric and the properties of tantalum capacitors. Materials Science Forum «Passivation of metals and semiconductors». Germany, Clausthal. 1995. V.185-188. P.573-580.
Похожие статьи
Неразрушающий контроль прочности электроадгезионных соединений проводник – ионный диэлектрик
2011 Н. С. Пщелко
Повышение эффективности работы систем удаления отходов обогащения Удачнинского ГОКа
2011 В. П. Докукин, А. А. Вельниковский
Амплитудно-фазовая коррекция кривых МТЗ дополнительного импеданса для двумерных сред
2011 Е. Ю. Ермолин