Исследование качества поверхности фототеодолитных пластинок накладным интерферометром ИТ-33
Авторы:
Аннотация
На точность определения координат по снимкам и определения элементов внутреннего ориентирования существенное влияние может оказать качество поверхности фотопластинок, под которым понимается отклонение их поверхности со стороны эмульсия от плоскости. Это отклонение приводит к смещению изображения фотографируемых объектов на негативе и к увеличению расстояний между изображениями координатных меток прикладной рамки фотокамеры. ...
Область исследования:
(Архив) Без раздела
Финансирование:
Отсутствует
Литература
- Гельман P. Н. Учет влияния неплотного прилегания фотопластинки при фототеодолитмой съемке. Геодезия и картография, № 1, 1959.
- Капустина Т. П., Машехин В. Т. Деформация тонких пластин кремния при механической обработке. Изв. ВУЗов, Приборостроение, т. X, № 6, 1967,
- Михайлов В. Я. Аэрофотография и общие основы фотографии. Геодезиздат, 1959.
- Рапасов Т. Н. Составление карт методом комбинированной наземной и воздушной стереофотограмметрической съемки. Геодезиздат, 1958.
- Шибанов В. И. О причинах "неприжима" фотопластинок у фототеодолитов ФОТЕО 19/1318. В сб.: "Разработка месторождений полезных ископаемых", 11. Изд. "Техника", 1967.
- Мееus W. А., Тhігіаг L. Silicates industriels, 23, № 2, 3, 1958.