Оценка глубины залегания двумерных электропроводников изометрического сечения по особым точкам частотных характеристик типпера
Об авторах
- 1 — аспирант Санкт-Петербургский государственный горный институт (технический университет)
- 2 — вице-президент компании «PHOENIX GEOPHYSICS» Компания «PHOENIX GEOPHYSICS»
Аннотация
В работе представлен анализ взаимосвязей глубины залегания двумерных проводящих тел с особыми точками частотных характеристик магнитовариационных параметров типпера. Как показали исследования, глубина залегания геометрического центра в рассматриваемом сечении тесно связана с расстоянием между двумя симметричными положительными экстремумами и значениями их амплитуд. Установленные зависимости могут быть использованы как при проектировании поисковых работ, так и при оценке параметров обнаруженных рудных объектов на стадии экспресс-интерпретации полученных данных.
Область исследования:
(Архив) Геология и геофизика
Финансирование:
Отсутствует
Литература
- Lam Н. et al. The response of perturbation and induction arrows to a three-dimensional buried anomaly // Geophysics 47, 1982. V.1. P.51-59.
- Rokityansky I.I. Geoelectromagnetic Investigation of the Earth's Crust and mantle. Springer-Verlag, Berlin, Heidelberg, New York, l982. 378 p.
- Ingerov O. et al. Hi sensitivity EM prospecting technique based on measurement of three magnetic components of natural EM field. 19th IAGA WG Workshop on Electromagnetic Induction in the Earth, Beijing. 2008. P.965-970.
- Ingerov O. et al. Non-grounded Surface Electroprospecting Technique., 70th EAGE annual Conference. 2009. Amsterdam.
Похожие статьи
Экстракционное разделение лантаноидов цериевой группы олеиновой кислотой
2011 Д. С. Луцкий, Т. Е. Литвинова, Д. Э. Чиркст
Моделирование устойчивости развития газовой компании в современных экономических условиях
2011 И. Б. Сергеев, Н. П. Галайда