Исследование качества поверхности фототеодолитных пластинок накладным интерферометром ИТ-33
Authors:
Abstract
На точность определения координат по снимкам и определения элементов внутреннего ориентирования существенное влияние может оказать качество поверхности фотопластинок, под которым понимается отклонение их поверхности со стороны эмульсия от плоскости. Это отклонение приводит к смещению изображения фотографируемых объектов на негативе и к увеличению расстояний между изображениями координатных меток прикладной рамки фотокамеры ...
References
- Гельман P. IT. Учет влияния неплотного прилегания фотопластинки при фототеодолитмой съемке. Геодезия и картография, № 1, 1959.
- Капустина Т. П., Машехин В. Т. Деформация тонких пластин кремния при механической обработке. Изв. ВУЗов, Приборостроение, т. X, № 6, 1967,
- Михайлов В. Я. Аэрофотография и общие основы фотографии. Геодезиздат, 1959.
- Ра пасов Т. Н. Составление карт методом комбинированной наземной и воздушной стереофотограмметрической съемки. Геодезиздат, 1958.
- Шибанов В. И. О причинах «неприжима» фотопластинок у фототеодолитов ФОТЕО 19/1318. В сб.: «Разработка месторождений полезных ископаемых», 11. Изд. «Техника», 1967.
- Мееus W. А., Тhігіаг L. Silicates industriels, 23, № 2, 3, 1958.
Similar articles
Строгое уравнивание маршрутной сети аналитической пространственной фототриангуляции
1969 V. V. Zverevich
Дифференциальные формулы для выражения ошибок элементов сети аналитической пространственной фототриангуляции одиночного маршрута
1969 V. V. Zverevich