2411-3336 2541-9404 Записки Горного института Journal of Mining Institute Санкт-Петербургский горный университет императрицы Екатерины ΙΙ Empress Catherine II Saint Petersburg Mining University pmi-8227 https://pmi.spmi.ru/pmi/article/view/8227 Без раздела Without section Goniometric attachment to diffractometer DRON-7 for texture and macro stress analysis Приставка гониометрическая к дифрактометру ДРОН-7 для анализа текстур и макронапряжений Anisimov V. N. Анисимов В. Н. Anisimov V. N. pmi@spmi.ru НПП «Буревестник» (Санкт-Петербург, Россия) OAO RPE Burevestnik (St. Petersburg, Russia) Lifshits V. A. Лифшиц В. А. Lifshits V. A. pmi@spmi.ru НПП «Буревестник» (Санкт-Петербург, Россия) OAO RPE Burevestnik (St. Petersburg, Russia) Malkov A. V. Мальков А. В. Malkov A. V. pmi@spmi.ru НПП «Буревестник» (Санкт-Петербург, Россия) OAO RPE Burevestnik (St. Petersburg, Russia) Pronichev V. A. Проничев В. А. Pronichev V. A. pmi@spmi.ru НПП «Буревестник» (Санкт-Петербург, Россия) OAO RPE Burevestnik (St. Petersburg, Russia) Firsova V. A. Фирсова В. А. Firsova V. A. pmi@spmi.ru НПП «Буревестник» (Санкт-Петербург, Россия) OAO RPE Burevestnik (St. Petersburg, Russia) 22 11 2005 2005 165 20 21 28 12 2004 28 01 2005 22 11 2005 © V. N. Anisimov, V. A. Lifshits, A. V. Malkov, V. A. Pronichev, V. A. Firsova 2005 В. Н. Анисимов, В. А. Лифшиц, А. В. Мальков, В. А. Проничев, В. А. Фирсова V. N. Anisimov, V. A. Lifshits, A. V. Malkov, V. A. Pronichev, V. A. Firsova CC BY 4.0 https://pmi.spmi.ru/pmi/article/view/8227

Дано краткое описание принципа действия и методических возможностей автоматической многофункциональной приставки ПГТМ, разработанной к дифрактометру ДРОН-7 для анализа текстур и макронапряжений в поликристаллических образцах и экспрессного определения ориентировки монокристаллов. Обсуждаются основные параметры сбора дифракционных данных для каждой из задач, решаемых при помощи этой приставки.

A brief description is given of the principle of operation and methodological capabilities of the automatic. macro-stresses in polycrystalline samples and express determination of single crystal orientation. The main parameters of diffraction data acquisition for each of the tasks solved with the help of this attachment are discussed.