Электрические методы неразрушающего контроля качества металлодиэлектрических структур оксидных конденсаторов | Пщелко | Записки Горного института

Электрические методы неразрушающего контроля качества металлодиэлектрических структур оксидных конденсаторов

Н. С. Пщелко, С. Д. Ханин

Аннотация


Представлен ряд экспериментальных методик обнаружения в аморфных слоях  оксида тантала структурных дефектов, ускоряющих процессы разрушения в сильных электрических полях и являющихся потенциально опасными при длительном электротепловом нагружении конденсаторных структур. Показано, что аномальная частотная зависимость диэлектрических потерь и рост тока утечки с течением времени позволяют выявить потенциально  ненадежные конденсаторы.


Ключевые слова


неразрушающий контроль; конденсаторы; диэлектрические потери; электрическое поле

Полный текст:

PDF

Литература


Пщелко Н.С. Использование полевых транзисторов для контроля характеристик диэлектриков / Н.С.Пщелко, А.С.Мустафаев // Записки Горного института. 2010. № 187. С.125-131.

Ханин С.Д. Модели прыжкового переноса и методы анализа электронных свойств неупорядоченных систем // Известия РГПУ. Естественные и точные науки. 2002. № 2(4). С.47-56.

Ханин С.Д. Проблемы электрофизики металлооксидных конденсаторных диэлектриков. Обзоры по электронной технике. Серия 5. Радиодетали и радиокомпоненты. 1990. Вып. 1 (1524). 57 с.

Khanin S.D. Structure inhomogeneities of the oxide dielectric and the properties of tantalum capacitors. Materials Science Forum «Passivation of metals and semiconductors». Germany, Clausthal. 1995. V.185-188. P.573-580.


Ссылки

  • На текущий момент ссылки отсутствуют.


Лицензия Creative Commons
Это произведение доступно по лицензии Creative Commons «Attribution» («Атрибуция») 4.0 Всемирная.